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熱門(mén)關(guān)鍵詞： 測(cè)角儀，應(yīng)力雙折射，折射率，薄膜弱吸收，反射率，GDD檢測(cè)設(shè)備，波片相位延遲，剪切
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產(chǎn)品中心
PRODUCT CENTER
gentec-eo激光功率計(jì)和能量計(jì)在這個(gè)領(lǐng)域擁有超過(guò)45年的歷史。 Gentec-EO功率計(jì)的UP17-H/W系列具有薄外殼、智能界面。憑借45年的記錄以及從工廠到醫(yī)院和實(shí)驗(yàn)室提供激光功率和能量測(cè)量...
在硅太陽(yáng)能電池板的生產(chǎn)過(guò)程中，硅晶體中的應(yīng)力在制作過(guò)程中往往沒(méi)有被檢測(cè)到，我們描述了一種測(cè)量硅錠的應(yīng)力雙折射檢測(cè)，它可以是方形的，也可以是生長(zhǎng)的，然后被鋸成硅片，當(dāng)這臺(tái)儀器被用作質(zhì)量控制工具時(shí)，在后續(xù)...
加拿大Gentec-EO是激光功率計(jì)能量計(jì)供應(yīng)商。UP -50W系列：50 mm Ø, 5 mW – 85 W, 100 kW/cm2。主要特點(diǎn)：1.模塊化概念增加您探頭的功率能力 :4 種...
Gentec Electro Optics提供全系列產(chǎn)品以滿(mǎn)足您的脈沖能量測(cè)量需求。Gentec-EO激光能量計(jì)從精益和便攜式QE12和QE25系列，大光圈QE50、QE65和QE95系列到我們的大型...
加拿大Gentec-EO 推出激光功率計(jì)能量計(jì)表頭，為擁有完整的激光功率測(cè)量系統(tǒng)，您將需要一款采集與讀出設(shè)備搭配您的功率探測(cè)器。我們提供不同功能的設(shè)備以滿(mǎn)足需求。無(wú)論您希望在大型觸摸顯示屏彩色 LCD...
Hinds Instruments 的ExicorOIA 是透鏡、平行面光學(xué)、曲面光學(xué)在正常和斜入角度評(píng)估的主要應(yīng)力雙折射測(cè)量系統(tǒng)。該系統(tǒng)是建立在Hinds lnsrtuments 光彈調(diào)制器（ PE...
ENTERPRISE ADVANTAGE
選擇我們就是選擇高品質(zhì)，我們是您的信賴(lài)之選！
非接觸式、非破壞性，實(shí)時(shí)在線測(cè)量或離線測(cè)量
可單次測(cè)量多層膜，可測(cè)20層
探針靈活配置，實(shí)現(xiàn)多個(gè)不同目標(biāo)測(cè)量
測(cè)試速度快，適用范圍廣
關(guān)于我們
ABOUT US
北京昊然偉業(yè)光電科技有限公司成立于2010年，專(zhuān)業(yè)代理歐美（德國(guó)、瑞士、美國(guó)、波蘭等）高精度的光學(xué)檢測(cè)設(shè)備，致力于為科研和工業(yè)客戶(hù)提供光學(xué)檢測(cè)解決方案及包括售前、售中及售后在內(nèi)的服務(wù)。主要包括：光學(xué)檢測(cè)產(chǎn)品：應(yīng)力雙折射、折射率、弱吸收、反射率、散射等測(cè)量系統(tǒng)/剪切干涉儀/非接觸式測(cè)厚儀/測(cè)角儀/可調(diào)相位延遲波片等；激光檢測(cè)產(chǎn)品：激光功率計(jì)、能量計(jì)及光束質(zhì)量分析儀等；集成系統(tǒng)所需的激光器、步進(jìn)位移平臺(tái)、偏振光轉(zhuǎn)換器等顯微系統(tǒng)所需的XYZ電動(dòng)載物臺(tái)、波片進(jìn)片機(jī)、高速相機(jī)ICCD、像增強(qiáng)器300ps門(mén)...
技術(shù)支持
TCEHNICAL SUPPORT
光束質(zhì)量分析儀基本的工作原理是通過(guò)對(duì)光束橫截面上的光強(qiáng)分布進(jìn)行測(cè)量和分析。當(dāng)光束照射到分析儀的探測(cè)器表面時(shí)，探測(cè)器上的每個(gè)像素點(diǎn)會(huì)接收到不同強(qiáng)度的光信號(hào)，并將這...
9-23
Gentec-EO激光功率計(jì)的核心在于準(zhǔn)確控制測(cè)量條件、規(guī)范操作流程以及定期維護(hù)校準(zhǔn)。通過(guò)上述步驟和注意事項(xiàng)，可保證測(cè)量的準(zhǔn)確性和設(shè)備壽命。1.準(zhǔn)備工作：確保設(shè)備處于良好的工作環(huán)境，溫度為室溫(約25℃)。檢查儀器各部件是否完好，連接是否正常。初次使用時(shí)，需先測(cè)定0輸入對(duì)應(yīng)的功率值作為校準(zhǔn)基準(zhǔn)。2.對(duì)準(zhǔn)光路：將激光源發(fā)出的光束準(zhǔn)確對(duì)準(zhǔn)探頭的光輸入窗口。此時(shí)應(yīng)調(diào)整光斑大小，使其占有效測(cè)量區(qū)域的40~80，以保證測(cè)量精度。例如，若探頭的有效感應(yīng)面積較大，則需通過(guò)光學(xué)元件或機(jī)械裝置...
9-18
穆勒矩陣測(cè)量系統(tǒng)的定標(biāo)是確保系統(tǒng)準(zhǔn)確獲取光學(xué)信息的關(guān)鍵步驟，其核心在于通過(guò)已知光學(xué)特性的標(biāo)準(zhǔn)樣品，對(duì)系統(tǒng)參數(shù)進(jìn)行精確調(diào)整與校準(zhǔn)，以下為詳細(xì)介紹：一、定標(biāo)原理穆勒矩陣是描述材料對(duì)偏振光變換作用的四維矩陣，每行對(duì)應(yīng)入射偏振態(tài)，每列對(duì)應(yīng)出射偏振態(tài)，16個(gè)元素共同構(gòu)成材料的光學(xué)指紋。定標(biāo)過(guò)程即通過(guò)標(biāo)準(zhǔn)樣品，確定系統(tǒng)各偏振參數(shù)（如補(bǔ)償器相位延遲量、起偏器和檢偏器方位角等），使系統(tǒng)能夠準(zhǔn)確獲取樣品的穆勒矩陣。二、定標(biāo)步驟準(zhǔn)備標(biāo)準(zhǔn)樣品：選擇具有已知光學(xué)特性的標(biāo)準(zhǔn)樣品，如具有明確偏振特性的晶...
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Gentec-EO激光功率計(jì)的核心在于熱效應(yīng)探測(cè)器的使用。激光探頭表面涂有特殊的熱電材料作為吸收體，當(dāng)激光照射時(shí)，大部分光能被該材料吸收并轉(zhuǎn)化為熱量，僅有少量反射。這種高吸收率的設(shè)計(jì)確保了測(cè)量的準(zhǔn)確性基礎(chǔ)。吸收體兩端因受熱不均形成溫度梯度，進(jìn)而在兩端之間產(chǎn)生電壓差。這一過(guò)程利用了塞貝克效應(yīng)(Seebeckeffect)，即不同溫度下的導(dǎo)體或半導(dǎo)體會(huì)產(chǎn)生電動(dòng)勢(shì)的現(xiàn)象。產(chǎn)生的微弱電壓信號(hào)隨后由配套的電路進(jìn)行放大和處理。內(nèi)置的高精度測(cè)量電路負(fù)責(zé)接收這些模擬信號(hào)，并將其轉(zhuǎn)換為數(shù)字形式...
新聞中心
NEWS CENTER
激光能量計(jì)是激光技術(shù)領(lǐng)域中不可少的精密測(cè)量工具，專(zhuān)門(mén)用于測(cè)量激光脈沖的能量，為激光應(yīng)用的精準(zhǔn)控制提供可靠依據(jù)。在激光技術(shù)日益普及的今天，激光能量計(jì)已成為科研、工...
8-25
在我們?nèi)粘Ｉ钪校坨R、相機(jī)鏡頭、顯微鏡、望遠(yuǎn)鏡等都離不開(kāi)光學(xué)玻璃。這些玻璃不僅要透明，還要具備高的光學(xué)均勻性。然而，即使外觀無(wú)瑕的玻璃，內(nèi)部也可能隱藏著“壓力”——這就是所謂的“殘余應(yīng)力”。這種應(yīng)力雖看不見(jiàn)，卻會(huì)嚴(yán)重影響光學(xué)性能，因此必須進(jìn)行精確測(cè)量和控制。本文將帶您了解光學(xué)玻璃應(yīng)力測(cè)量的基本知識(shí)。什么是光學(xué)玻璃中的應(yīng)力？光學(xué)玻璃在制造過(guò)程中(如熔煉、成型、退火等)，由于溫度變化不均勻或外部約束，內(nèi)部會(huì)產(chǎn)生不均勻的分子排列，導(dǎo)致部分區(qū)域被拉伸或壓縮，形成“殘余應(yīng)力”。這種應(yīng)...
7-16
摘要激光技術(shù)在科研、工業(yè)制造、醫(yī)療等眾多領(lǐng)域有著廣泛的應(yīng)用。為了確保激光設(shè)備的性能和安全性，準(zhǔn)確地測(cè)量激光輸出功率顯得尤為重要。本文將詳細(xì)介紹激光功率計(jì)的工作原理及其主要功能。一、引言隨著激光技術(shù)的發(fā)展，激光在各行各業(yè)中的應(yīng)用越來(lái)越廣泛，從簡(jiǎn)單的指示器到復(fù)雜的外科手術(shù)器械和精密制造工藝中都能見(jiàn)到它的身影。而激光功率計(jì)作為一種重要的測(cè)量工具，在保證激光設(shè)備正常運(yùn)行、優(yōu)化激光加工過(guò)程以及保障操作人員安全方面發(fā)揮著至關(guān)重要的作用。二、激光功率計(jì)的基本原理光電效應(yīng)：這是激光功率計(jì)基礎(chǔ)...
6-18
當(dāng)光進(jìn)入Lumetrics測(cè)厚儀的干涉儀后，輸入光被等比例分束成為兩束光。這兩束光頻率相同、振動(dòng)方向相同，但具有穩(wěn)定的相位差，并沿不同光路傳播。在輸出端重新匯合疊加時(shí)，會(huì)出現(xiàn)光的干涉現(xiàn)象。光強(qiáng)在疊加區(qū)域內(nèi)不是均勻分布，而是在數(shù)值之間逐點(diǎn)變化，可能超過(guò)兩光束之和，小值可能是零。通過(guò)分析這種干涉條紋的變化，可以準(zhǔn)確地測(cè)量出被測(cè)物體的厚度。Lumetrics測(cè)厚儀優(yōu)點(diǎn)：-非接觸式測(cè)量：它不需要與被測(cè)物體直接接觸，避免了傳統(tǒng)接觸式測(cè)量可能對(duì)物體表面造成的劃傷、磨損等損害，尤其適用于測(cè)...
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激光測(cè)量